■厂方：德国卡尔蔡司

■型号：merlin compact

■主要特点：采用ZEISS新一代专利镜筒（GEMINI）设计，具有优良的高、低加速电压性能，创新的InlensDuo探测器是内置镜筒电子束光路上的探测器，其具有最佳的灵敏度和最高的接收效率，而且可接收来自样品表面的二次电子和背散射电子，因此具有业界最高等级的分辨率和图像质量。创造性的采用电磁、静电复合式物镜，杂散磁场小，可对铁磁体样品进行高分辨率成像。

■技术参数：

（1）二次电子分辨率：0.8nm（15KV），1.6nm（1KV）。

（2）背散射电子分辨率：2.0nm（15KV）。

（3）放大倍数：12X~350,000X。

（4）可分析元素：5(B)－92(U)。

（5）加载配件:能谱仪(EDS)、背散射电子衍射分析仪(EBSD)、原位拉伸台。

■服务简介：

（1）材料微观断口形貌分析、失效分析、表面分析。

（2）金属和非金属材料的显微组织观察、微区元素的定性、定量成分分析。

（3）材料的微型拉伸测试，原位拉伸压缩、疲劳拉伸压缩、三点、四点弯曲测试。

联系电话：0532-55590818；0532-55590877